Принципот на откривање на опремата за оптичко детекција главно се заснова на карактеристиките на светлината и оптичките феномени.
Светлината има својства на бранови и честички, што ѝ овозможува да комуницира со предмети и да генерира различни сигнали што може да се забележат. Вообичаените принципи за оптичко откривање вклучуваат:
Принцип на рефлексија: Кога светлината ќе ја погоди површината на објектот, таа ќе се рефлектира. Објектите со различни материјали и површински состојби имаат различни карактеристики како што се интензитетот и аголот на рефлектираната светлина. Со откривање на овие карактеристики на рефлектираната светлина, може да се процени квалитетот на површината, обликот, големината и другите информации на објектот. На пример, фотоелектричен сензор се користи за откривање на промената на интензитетот на рефлектираната светлина на површината на објектот за да се утврди дали објектот има дефекти или недостатоци.
Принцип на прекршување: Кога светлината влегува од една средина во друга, таа ќе се прекрши, а аголот на прекршување е поврзан со индексот на прекршување на медиумот. Со мерење на аголот на прекршената светлина или промената на индексот на прекршување може да се утврдат својствата на материјалот, дебелината и сл. на објектот. На пример, при проверка на квалитетот на оптичкото стакло, униформноста и индексот на прекршување на стаклото се оценуваат со мерење на аголот на прекршување на светлината кога поминува низ стаклото.
Принцип на пречки: Кога ќе се сретнат два кохерентни светлосни зраци, се јавува пречки, формирајќи пречки на светлина и темнина. Со набљудување на обликот и растојанието на рабовите на пречки, може да се измери микро-поместувањето, плошноста и сл. на објектот. Во некои високо-прецизни оптички мерни инструменти, како што се интерферентните микроскопи, принципот на пречки се користи за мерење на површинската морфологија на објектите.
Принцип на дифракција: Кога светлината поминува низ препреки како што се мали дупки или процепи, таа ќе дифракција, а шемата на дифракција е поврзана со обликот и големината на пречката. Со анализа на шемата на дифракција, може да се заклучат информациите за структурата и големината на објектот. На пример, во технологијата за дифракција на X-зраци, феноменот на дифракција на X-зраците се користи за анализа на структурата на кристалите.
Принцип на апсорпција: Различни супстанции имаат различни карактеристики на апсорпција на светлината. Некои супстанции апсорбираат светлина со одредена бранова должина и претставуваат специфична боја или пропустливост. Со откривање на апсорпција на светлина може да се одреди составот и концентрацијата на супстанцијата. На пример, во хемиската анализа, UV-видливиот спектрофотометар се користи за мерење на апсорпцијата на супстанција со одредена бранова должина на светлината за да се одреди содржината на супстанцијата.
Накратко, опремата за оптичко детекција може да детектира различни физички и хемиски својства на објектите со паметно искористување на различни карактеристики и феномени на светлината. Тој ги има предностите на бесконтактна, висока прецизност и голема брзина, и е широко користен во индустриското производство, контролата на квалитетот, научните истражувања и други полиња.
